日本理学波长色散性x射线荧光光谱仪(WD-XRF ，简称理学波谱)一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在 -一个精密的测角仪上，还需要庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要大，一般为2~3千瓦。但 X射线管的效率极低，只有1%的电功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以 X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷)，因此 波谱仪的价格往往比能谱仪高。

能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)，一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光仪的区别在于它不用分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有以下的优点  ：

1、仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精确调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。

2、能量色散形荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X射线的利用率很高，不需光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。

3、在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景 )的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X射线光谱仪能比晶体X射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。

4、能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，减小了偶然错误判断某元素的可能性。

看了以上四大特点的介绍是否已经对日本理学X射线荧光光谱仪有了一定的了解。